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晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987 |
78000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987 |
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晶闸管综合参数测试仪BJ2948A |
58000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：晶闸管综合参数测试仪BJ2948A |
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稳压二极管测试仪BJ2912B |
9500 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：主要特点
本仪器可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib,
微机控制参数设置，数字显示及打印。
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二极管瞬态热阻测试仪BJ2984A |
56000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本仪器可对各种类型锗，硅晶体二极管的瞬态热阻参数进行快速测量。
对以环境温度Ta为参考点不带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻；
对以壳温Tc为参考点带散热器使用的大功率晶体二极管，当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后，也可确定其稳态热阻。
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低频大功率fT测试仪BJ3022（QJ30） |
78000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本仪器是测量NPN，PNP型大功率晶体管特征频率fT 专用设备，测量频率为0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz四个点频,测量范围为0.3MHz-100MHz并能在上述点频测量器件之高频正向共发射极电流增益︱hfe︱。本仪器由主机和三个测试盒组成，可测F1、F2、F3、F4、G3、G4六种管壳的低频大功率管，外接偏置高压电流源之偏置范围为0-50V，0-5A。
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晶体管热阻抗测试系统 BJ2984B |
98000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ2984B晶体管热阻抗测试系统(以下简称本系统)是BJ2984的升级产品，可测试各种型号中、大功率晶体管瞬态及稳态热阻抗。在BJ2984的基础上添加了微机控制，系统软件基于微软视窗系统的操作环境，使您轻松掌握测试。 |
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晶闸管综合参数仪 HB2931B |
22800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：HB2931B型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定 |
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高频小功率晶体管Ft测试仪 |
69000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本系列是利用“带宽—增益乘积”原理测量高频小功率晶体三极管特征频率的全晶体管化专用设备。测量频率分别为：10MHz、30MHz、100MHz、200MHz、400MHz。仪器可监测各频率下的│B│。
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场效应管综合参数测试仪 BJ3000 |
68000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：MOS场效应管测试仪.本仪器为测试场效应管综合参数的测试仪，可测Vgs（th）、Idss、Igss、BVdss、BVgss、Rd、、Gfs参数。本仪器是采用计算机控制的高智能化的测试仪器，具有测试速度快、操作灵活、使用方便特点，并能存储测试条件，存储、打印测试数据 |
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反向漏电流测试仪 JS-2G |
11800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：测试二极管三极管及任何两端器件，分脉冲和直流两种方式，本仪器完全按照国际标准（ICE）和国家标准来设计，显示和测试方法是采用程控方式，测试电压为20V-1500V，测试电流范围100PA-199uA。 |
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晶体管反向截止电流测试仪 JS-2D |
8800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：JS--2D型晶体管反向截止电流测试仪，符合国家标准和IEC标准的规定，是为了提高半导体器件质量，开展半导体器件的质量认证工作，统一半导体器件参数的量值而研制的。本仪器可测试NPN、PNP、微功耗、小、中、大功率晶体管ICEO、ICBO、I EBO、ICER 、ICES、ICEX等反向截止电流，可供半导体器件生产厂‚整机厂‚科研单位‚大专院校使用 |
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稳压二极管测试仪 BJ2912C |
11800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ2912C型稳压二极管测试仪符合国家GB6571-86标准及国标IEC标准的规定。可满足2CW系列，2DW系列，玻封二极管1N4370~4372、1N746~986、1N4728~4764等系列，电压基准二极管2DW230~236系列，2DW8A~8C系列、表面安装稳压二极管RLZ3.3~30系列产品的稳定电压，动态电阻RZ |
