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晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987 |
78000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987 |
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晶闸管综合参数测试仪BJ2948A |
58000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：晶闸管综合参数测试仪BJ2948A |
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稳压二极管测试仪BJ2912B |
9500 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：主要特点
本仪器可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib,
微机控制参数设置，数字显示及打印。
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智能大功率图示仪简介BJ4822 |
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北京无线电仪器厂 |
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| 简介：智能大功率图示仪 |
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二极管瞬态热阻测试仪BJ2984A |
56000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本仪器可对各种类型锗，硅晶体二极管的瞬态热阻参数进行快速测量。
对以环境温度Ta为参考点不带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻；
对以壳温Tc为参考点带散热器使用的大功率晶体二极管，当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后，也可确定其稳态热阻。
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图示仪校准仪BJ4801B |
39500 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ4801B型晶体管图示仪校准仪,主要用来计量、校准各种通用型晶体管特性图示仪的主要技术指标，也可用做直流信号源，因为该机可输出0.1V~1000V(1、2、5分档)的标准直流电压信号源和10μA~10A(1、2、5分档)的标准直流电流信号。 |
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数/模集成电路测试仪 ICT33C+ |
5300 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：ICT33C+具有以下主要用途：
（1）维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2）破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3）烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4）开发各类智能电子产品，调试程序。
（5）检验新购器件的质量。
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数字IC测试仪 ICT-33C |
3800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：ICT-33C集成电路测试仪:可测1300种器件.可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,器件代换查询,内部RAM数据修改,EPROM、EEPROM器件读出写入.
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低频大功率fT测试仪BJ3022（QJ30） |
68000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本仪器是测量NPN，PNP型大功率晶体管特征频率fT 专用设备，测量频率为0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz四个点频,测量范围为0.3MHz-100MHz并能在上述点频测量器件之高频正向共发射极电流增益︱hfe︱。本仪器由主机和三个测试盒组成，可测F1、F2、F3、F4、G3、G4六种管壳的低频大功率管，外接偏置高压电流源之偏置范围为0-50V，0-5A。
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晶体管热阻抗测试系统 BJ2984B |
68000 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：BJ2984B晶体管热阻抗测试系统(以下简称本系统)是BJ2984的升级产品，可测试各种型号中、大功率晶体管瞬态及稳态热阻抗。在BJ2984的基础上添加了微机控制，系统软件基于微软视窗系统的操作环境，使您轻松掌握测试。 |
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晶闸管综合参数仪 HB2931B |
22800 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：HB2931B型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定 |
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高频小功率晶体管Ft测试仪 |
39500 |
北京无线电仪器厂 |
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| 简介：本系列是利用“带宽—增益乘积”原理测量高频小功率晶体三极管特征频率的全晶体管化专用设备。测量频率分别为：10MHz、30MHz、100MHz、200MHz、400MHz。仪器可监测各频率下的│B│。
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